“新电气、新信息”研学论坛第三十九期讲座 顺利进行
作者：李莉
2016年7月11日下午14：30谢煜博士应邀来我校作了题为“机器视觉工业应用热点及难点”和“缺陷检测算法设计的实践”的学术报告。本次学术报告会在6A-301举行，本次报告会由电气信息学院院长董秀成教授主持，学院的部分老师以及研究生参加了此次报告会。
谢煜博士是电子科技大学和美国中佛罗里达大学联合培养博士，现为深圳市顶点视觉自动化技术有限公司总经理。长期从事机器视觉系统设计、固态照明和照明设计、缺陷数学模型、光学系统设计、缺陷检出算法、精密光机设计、光学测量仪器、光信号处理等方面研究，在液晶屏粒子检测系统、同步相移相干成像及其重建、液晶屏前段制程ITO线路检测系统分析和方案设计、电路板自动外观检查机中的缺陷数学模型的分析和建立、PCB线宽检测仪的照明设计方法等方面取得了很多创新性研究成果。在国内外期刊发表论文20余篇，获国家发明专利7项，实用新型专利6项。
在本次学术报告中，谢煜博士首先介绍了机器视觉工业的2D和3D应用，随后介绍了机器视觉工业应用的难点。然后，谢煜博士通过介绍PCB焊盘缺陷检测算法设计实践详细的说明了缺陷检测算法设计在实际中的应用。最后，谢煜博士讲述了缺陷检测算法设计的技术和哲学之间的关系。
最后，现场师生踊跃发言，对本次报告中的内容提出了自己的疑问与见解，针对每一个提问，谢煜博士都耐心解答，让学院师生对报告内容有了更深刻的认识和理解。
